Сканирующий электронный микроскоп

Характеристики

Позволяет исследовать топографию и состав любых твердотельных образцов, в том числе порошкообразных и биологических. Разрешающая способность при пользовании детектором вторичных электронов:

3,0 нм (ускоряющее напряжение 30 кВ, при работе с высокой степенью разрежения)
10 нм (ускоряющее напряжение 3 кВ, при работе с высокой степенью разрежения)
Разрешающая способность при пользовании детектором обратно рассеянных электронов:
4,0 нм (ускоряющее напряжение 30 кВ, при работе с низкой степенью разрежения)
Степень увеличения - от 5 до 300 000
Предел обнаружения рентгеноспектрального микроанализа – порядка 10–2 мас. %, минимальная область исследования – 1 мкм для элементов.
Максимальный размер образца: высота 30мм, диаметр 50 мм

Фирма-производитель

Hitachi, Япония

Марка

S-3400N

Год

2007